米Keithley Instruments社は、同社の「4200-SCS型 半導体特性評価システム」用ソフトウエアの新版「Keithley Test Environment Interactive（KTEI） V7.1」を発表した。オプションのハードウエア「4200-CVU（capacitance voltage unit）型パワーパッケージ」とともに用いることにより、C‐V試験、パルス試験、I‐V試験が1台で行える。

　KTEI V7.1は400種類以上の試験ライブラリを備える。4200-CVU型パワーパッケージと組み合わせると、最大200V（差動では400V）、300mAのC‐V試験が可能となる。このような耐圧を備えることから、自動車やディスプレイなどで使用される、LDMOS（横方向拡散MOS）などのパワーデバイスの試験を行える。このほか、低電圧CMOSやHigh-k絶縁膜などの特性評価に適した準静的C‐V測定も行える。すでに4200-SCS型を使用している場合、無償でKTEI 7.1に更新できる。4200-CVU型パワーパッケージの価格は38万円。

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