Design Centers 計測/検査装置
このページをホームページに登録2008年NEWS一覧
低コストのアナログICテスト装置、 最大8個の同時測定が可能 (2008.12.02)
16chのロジック入力に対応したオシロスコープ、 Tektronix社が低価格品をシリーズ展開 (2008.11.18)
アジレントのパワー半導体向けアナライザ、 3000V/20Aまでの特性評価を実現 (2008.11.05)
横河電機のミックスドシグナルオシロ、 ミッドレンジ機で8CHのロジック入力にも対応 (2008.11.04)
エヌエフ回路設計ブロック、 IOtech社製データアクイジション製品の販売を開始 (2008.10.29)
オシロスコープでベクトルシグナル解析が可能に、 Tektronix社が専用解析ソフトを発表 (2008.10.27)
アジレント、研究開発向けに汎用の MIMO受信機テスターを販売 (2008.10.07)
アドバンテスト、車載用半導体試験装置の Credence Systems社の買収を完了 (2008.08.29)
三菱電機、外径15cmで重量10kgと小型の 電子加速器を開発 (2008.08.29)
高速シリアルI/Fの計測環境を提供、 日本テクトロが専用施設を開設 (2008.08.28)
W-CDMA/HSPA対応の携帯電話機テストツール、 3GPP規格への適合試験が可能 (2008.08.25)
NI社、「LabVIEW」のシステム設計モジュール 初期バージョンを2009年中に投入 (2008.08.15)
－『NIWeek 2008』から
LabVIEWの新バージョン、 マルチコアとFPGAへの対応を強化 (2008.08.08)
——『NIWeek 2008』から
日立製作所、回路基板から筐体に流れる 雑音電流の測定技術を開発 (2008.08.07)
Agilent社、Mentor社らがPISMOメンバーに加入 (2008.08.07)
VLSI Standards社、太陽電池に特化した 研究所を開設 (2008.08.07)
Keithley社、半導体特性評価システムの ソフトウエア新版を発表 (2008.08.06)
マルチメーターを一体化させた携帯型オシロ (2008.08.01)
LTEの4×4 MIMO解析が可能な シグナルアナライザ用ソフトウエア (2008.07.31)
SIIナノテク、入門機として2980万円のFIB装置を発表 (2008.07.30)
レクロイ、データ処理速度やデバッグ/解析能力を 高めたオシロを発売 (2008.07.02)
パソコンへのUSB接続で利用可能なモジュラ測定器 (2008.07.02)
Keithley社がWiMAX対応製品を発表、 4×4のMIMO構成も容易に (2008.06.26)
携帯型のリアルタイムスペアナ、 日本テクトロニクスがフィールド計測向けに発売 (2008.06.19)
HSDPAに対応したTD-SCDMA方式携帯電話端末の 呼接続試験用ソフトウエア (2008.06.03)
日本TIが高速D-Aコンバータ製品を拡充、 16ビットの1Gsps/800Msps品を発表 (2008.05.29)
PCIe 1.1に準拠した自動コンプライアンス試験 パッケージ、レクロイが発売 (2008.05.01)
テクトロニクスのオシロスコープ、 5メガポイントのレコード長に標準対応 (2008.04.24)
アジレントと岡谷エレクトロニクス、 Elektrobit社のFlexRay関連製品の販売で提携 (2008.04.02)
1600MT/sのDDR3に対応した計測製品群、 日本テクトロニクスが発表 (2008.03.19)
最高測定周波数が18GHzの 小型スペクトラムアナライザ (2008.03.19)
MIPIプロトコル用のテスト製品、 携帯電話機のカメラ/ディスプレイ機能をサポート (2008.03.11)
DDR SDRAM向けのBGAプローブ、 オシロ/ロジアナに対応 (2008.03.11)
アジレントが上位機と中位機のオシロを発表、 中位機は新ブランドを採用 (2008.02.22)
映像/音声向けの携帯型波形モニター、 価格は従来比2/3で奥行きは同1/3 (2008.02.22)
SATA Gen-2適合試験の時間を従来比約70％削減する計測ソフト (2008.02.14)
日本NI、USB電源のデジタルマルチメーターを販売開始 (2008.02.08)
ライブスペクトラム表示機能を搭載したスペアナ中級機 (2008.02.06)
UL Japanが平塚市にEMC試験所を新設 (2008.02.06)
アジレントの信号発生器、 複合器ながら専用器と同等性能 (2008.02.01)
光海底ケーブルの障害位置を 高精度に検出可能な試験器 (2008.01.15)
車載電子機器向け機能試験装置、 基本機能に絞り安価に (2008.01.15)
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