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EDN Japan主催 ノイズセミナー『勘に頼らないEMC対策』



最新のノイズ対策手法を学ぶ一日
 電磁波、静電気などのノイズの問題がより複雑かつ深刻になる中、機器設計者はどのようにEMC(Electro-Magnetic Compatibility)に立ち向かっていけばよいのでしょうか。
 本セミナーでは、チップ内部から機器全体まで、EMC対策の手法を幅広く扱います。ノイズにかかわる各種理論や、トライ&エラーを繰り返さないための方法論など、高度な技術ノウハウに基づいたEMC対策を実践するために、ぜひお役立てください。

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本セミナーに関するご質問は、
メールアドレス : noise2007@reedbusiness.jpにご連絡ください。
EDN Japan 主催 ノイズセミナー『勘に頼らないEMC対策』
日時 2007年8月31日(金)10:00〜18:30 (受付開始 9:30)
会場

ベルサール神田 イベントホール
東京都千代田区神田美土代町7 住友不動産神田ビル 2F

受講料金 EDN Japan読者特価:21,000円/一般価格:31,500円(昼食代、資料代、消費税込)
※このセミナーを機に、EDN Japan無償講読にお申し込みいただいた方も、読者特価を適応いたします。
詳しくは、セミナー事務局までお問い合わせ下さい。
主催 EDN Japan



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※アルファベット順




プログラム
9:30 受付開始
10:00-10:05 開会にあたって
EDN Japan 編集長 馬本 隆綱
10:05-10:55 基調講演:『LSIノイズのオンチップ測定とモデリングによる対策』
神戸大学 大学院工学研究科 准教授 永田 真氏 (50分)
10:55-11:10 − 休憩 − (15分)
11:10-12:30 講演 1:『ICチップで実現する、無線周波数帯のノイズキャンセル技術』
米Quellan社 会長 兼 CEO D. Tony Stelliga氏 (80分)
12:30-13:30 − 昼食休憩 − (60分)
13:30-14:15 講演 2:『イミュニティ試験の “ツボ” − 市場でのクレームを最小限にする方法』
株式会社ノイズ研究所 技術部 次長 石田 武志氏 (45分)
14:15-15:00 講演 3:『組み込みマイコンからの輻射を抑える―低ノイズ実装技術と評価/解析技術』
株式会社 ルネサス テクノロジ 生産本部 技術開発統括部 実装技術開発部 主管技師 中村 篤氏 (45分)
15:00-15:45 講演 4:『高速差動伝送ラインのノイズ対策部品とその応用例』
TDK株式会社 電子部品営業グループ テクノロジービジネス推進部 EMCビジネスグループ
菊池 浩一氏 (45分)
15:45-16:05 − 休憩 − (20分)
16:05-16:50 講演 5:『パワーインテグリティからEMI、ESDまで
           セット事例に見る総合ノイズシミュレーション手法』

富士通株式会社 テクノロジセンター HPC適用推進センター プロジェクト部長 佐藤 敏郎氏 (45分)
16:50-17:40 特別講演:『先端の電磁界測定技法 − フォトニクス技術を用いた電磁界イメージング』
独立行政法人 情報通信研究機構(NICT)
新世代ネットワーク研究センター 光波量子・ミリ波ICTグループ 専攻研究員 笹川 清隆 氏 (50分)
17:40-18:30 オーサーズインタビュー
※講演者に対する個別Q&Aセッション

■プログラムは変更される場合がございます。


 
 
展示
企業名 展示
日本ナショナルインスツルメンツ株式会社 LabVIEWを使用した自動計測器制御
NI EMC ソリューションキット
米Quellan社 Quellan QNx RF Noise Canceller
テュフズードオータマ株式会社 EMC試験
EMCノイズ対策支援、受託対策サービス
製品安全試験
テレコム認証試験
株式会社ノイズ研究所 静電気自動印加システム ZAP−1A
お問い合わせ先 リード・ビジネス・インフォメーション株式会社
ノイズセミナー事務局
担当:内藤/畑地
電話:03-5775-6017
e-mail : noise2007@reedbusiness.jp


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