日立製作所は2008年8月、電磁波発生の原因となる、電子機器の回路基板から筐体に流れる雑音電流を測定する技術を開発したと発表した。同技術を電子機器設計に応用することで、雑音電流の経路を特定することができ、電磁波を抑えた機器開発が可能になるという。

　電子機器の回路基板で発生する雑音電流は、基板上の配線を流れ、基板の取り付けネジを介して機器の外側（筐体）に伝わり、電磁波となって外部に放射される。これまでは基板から筐体に流れる雑音電流を測定するための有効な手段がなく、機器全体の雑音電流の経路を特定することが困難であったという。

　日立は今回、取り付けネジの部分に装着することで、基板から流れ出る雑音電流を測定することができるプローブ（写真1）を新たに開発した。このプローブは、巻き線を配置することで、雑音電流の大きさを誘起電圧として測定するという考え方を基に開発された。このプローブを用いることで、取り付けネジの配置/個数などを最適化することができ、電磁波についてより配慮した機器設計が可能になるとしている。

　日立によれば、この技術を用いて電子機器を分析した結果、個々の回路部品の信号電流が雑音電流となって、基板から取り付けネジを介して筐体に流れ出ることが明らかになったという。これにより、ネジ部において雑音を除去する基板構造を考案し、基板上で発生した雑音電流を筐体に伝えにくくすることで、電磁波の放射を抑制した低雑音基板設計技術を開発することに成功したと説明している。