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図5　入力バッファーを高い電圧で駆動したときの問題

ゲート酸化膜の信頼性を確保できないことがある（a）。静電気保護ダイオード（b）やpチャンネルMOS FET（c）が、電源端子への低インピーダンス電流経路となる恐れもある。出典：米テキサス・インスツルメンツ社。